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鉱物、高分子素材の特性評価、さらなる微小領域の偏光観察の為にAxio Imager Polは第2世代に生まれ変わりました。
鉱物学、結晶学と地質学はもちろん、ガラス、建材、繊維と繊維工業、高分子素材で要求される偏光観察や複屈折の測定に対応します。
- 透過照明光路を新たに設計し反射・透過照明ともに完全アポクロマート化を実現
- そのため、全ての観察方法で極めて高い分解能での情報の可視化が実現
- オルソスコピィとコノスコピィ(干渉色)観察の迅速な切り替えが可能
- 充実したコンペンセータ(補償板)による複屈折の測定に対応
- 主要パーツはエンコードまたは電動化されているので、AxioVisionソフトウエアを使用する事により倍率・観察モードなどの重要な情報はデジタル画像に自動転送可能
- 革新的なエルゴノミクス設計と操作性の向上
- モジュラーシステムで将来に向けたシステム拡張の可能性
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